CM120BD-AF研究级电动12寸大平台金相显微镜半导体芯片/晶圆/LCD检查
研究级电动12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节，12寸大工作平台特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM120BD研究级12寸明暗场金相显微镜线路板切片测量晶圆检测
研究级12寸大平台半导体检查显微镜CM120BD广泛应用于芯片/晶圆/LCD，粒子爆破检查等行业使用。采用半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美。用户可根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对线路板切片测量，晶圆检测，金相材料，高分子材料等尺寸较大的样器进行分析检测，本机配备了偏振系统可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。同时可以选配DIC干涉附件插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
TZ-650D同轴光金相显微镜工业1525X连续变倍
TZ650D高分辨率单筒镜头采用积木式结构，平行光路光学系统，可选配不同倍率的CCD接口和辅助物镜满足不同倍率，视野和工作距离的需求。高分辨率、高对比度成像。重复定位精度高，重复精度可达1um。可选配LED照明或光纤照明可观察不同的样品，可以满足客户多方面的要求，广泛应用于电气设备、半导体、LCD、LED观察检测等
VM3600I科研级倒置金相显微镜带液晶屏幕
科研级三目倒置金相显微镜VM3600I采用优良的无限远半复消色差光学系统60mm多功能、模块化的设计理念，带有偏光装置，并可选配暗场装置、DIC微分干涉装置实现暗场和微分干涉等特殊观察。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。
CM60BD-AF电动研究级材料检测显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM60BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM40BD研究级材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM40BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
科研级数码三目倒置金相显微镜VM3200I
VM3200I科研级三目倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念，仪器带有偏光装置，并可选配暗场装置、DIC微分干涉装置实现暗场和微分干涉等特殊观察。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金属、岩矿内部结构组织的鉴定和分析，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等。广泛应用在工厂、实验室和教学及科学领域。是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。总放大倍数：50-1000X
CMY-290DM透反射数码金相显微镜
透反射数码金相显微镜CMY-290DM由CMY-290和HDP5612显示屏相机组成。CMY-290配置了透射、落射照明装置，既可以观察金属材料的金相组织结构，也可以观察半透明，甚至不透明的生物标本。采用了无限远长工作距平场消色差金相物镜和大视野目镜，具有成像清晰，视野广阔，操作方便等特点。 HDP5612显示屏相机图像色彩还原接近原色，提供鼠标操作，厂家出厂配套无线鼠标，保证产品使用灵活方便； 11.6寸1080P液晶屏显示内置测量软件，可拍照录像测量预览图片，支持U盘存储，内置工业相机全部需要的功能。CMY-290DM尤其适合观察金相试样，电子芯片等样品，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
CM80BD研究级材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM80BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM80BD-AF电动研究级材料检测显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM80BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。8寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM60BD研究级材料检测显微镜
研究级材料检测显微镜CM60BD采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，或根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。配有6寸大平台特别是针对大尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CM40BD-AF电动研究级材料检测显微镜
电动研究级材料检测显微镜CM40BD-AF采用全新半复消技术，集明场，暗场及偏光等多种照明方式，任何观察都能呈现清晰锐利的显微图像，根据实际应用进行功能选择，是工业检测的有效工具。机器采用电动转换器，物理按钮和软件双控，进行远位数调节。特别是针对中小尺寸的半导体FPD检查，线路板切片测量，晶圆检测同时该产品还适用于金相材料，高分子材料的分析检测，本机配备了偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更加清晰。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态.同时可以在在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度，特别适合观察导电粒子。
CMY-53BD明暗场透反射金相显微镜(内置偏光装置)
明暗场透反射金相显微镜CMY-53BD采用无限远色差校正光学系统，配置了落射与透射照明系统、无限远半复消色差物镜、内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，能分别对不透明物体或透明物体进行显微观察，尤其适合观察金相试样，电子芯片等样品。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
CMY-500BD科研级金相显微镜(陶瓷部件、精密模具检测)
CMY-500BD研究型明暗场金相显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的，可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件、金属、陶瓷部件、精密模具的检测。本仪器采用了反射和透射两种照明形式，在反射光照明下可进行明暗场观察（选购DIC装置）、偏光观察。在透射光下作明场观察。
MH-100油品磨痕分析显微镜
油品磨痕测量显微镜MH-100是我公司专为中国石油科学研究机构定制的检测润滑油中颗粒对金属（钢珠）磨损程度的观察检测分析系统。该系统采用了具有抑制高反射强光的光学显微镜和摄像头以及分析测量软件，能清晰地观测金属磨损痕迹和检测金属磨损程度。 系统配置了无限远三目金相显微镜，高清晰sony摄像头，图像测量管理软件。独特的光路大范围调节功能，改变照明光路中心，利用弱光照明、优化光路等技术手段，解决了光斑问题，获得了良好的图像效果，也获得了用户的认可，并初步决定以此摄像测量显微镜为标准，制定相关标准，在油品检测行业推广。
DMM-220D电脑型正置金相显微镜
DMM-220系列正置金相显微镜适合电子、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察透明、半透明或不透明的物资，如金属陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料，也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。同时也是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
MMJ-3060E系列三目倒置金相显微镜
VM3300I/MMJ-3060系列倒置金相显微镜主要用于鉴定和分析金属内部结构组织,它是金属学研究金相的重要仪器,是工业部门鉴定产品质量的关键设备,主要用以鉴别和分析各种金属及合金的组织结构，应用于工厂或实验室进行各种金属质量鉴定，原材料的检验或对材料处理后金相组织的研究分析等工作。其偏光系统尤其适合对球墨铸铁石墨以及不锈钢的检验。是一款组合功能比较强的实验室用的金相显微镜。
BA310Met-H金相显微镜
面向工业应用领域的新型显微镜，具有优异的光学成像质量，可以从容应对品质管理，制造工序检查等观察需求。可以与用户的系统或使用需求灵活组合配套。应用领域：半导体检测、FPD、封装、电路基板、铸造、金属材料、精密模具等。
AE2000MET双目金相显微镜
全新AE2000Met 倒置金相显微镜，适用于教学、科研、工业等领域，是金属材料、矿物学、精密工程学、电子学等研究必备的仪器。
4XB-T金相显微镜
产品规格：双目，3个物镜，7个目镜，放大倍数：100~1250倍，倒置 规格： 1、物镜消色差物镜：10X、40X(平场）、100Xoil工作距离（mm)：7.31、0.65、0.372、目镜平场目镜：10X、12.5X现场直径：18、15mm3、放大倍数：100X-1250X4、机械筒长：160mm5、微动调焦 调节范围：7mm 刻度格值：0.002mm 粗动调焦范围：7mm6、机械工作台：75*50mm7、照明灯泡：6伏12瓦溴钨灯8、仪器重量：5kg9、包装箱体积：360*246*350mm
XJZ-6正置式透反金相显微镜
XJZ-6、XJZ-6A型正置式透反、正置式反射金相显微镜属中型金相显微镜，XJZ-6型采用了反射与透射两种照明形式，XJZ-6A型采用了反射照明形式，使用者可在反射光照明下进行明场，暗场和偏光观察与摄影，XJZ-6型又可在透射光照明下作明场观察与摄影等用。并配有6cm×9cm幅面的摄影装置，另外还带135摄影附件。
BX51M金相显微镜
奥林巴斯金相显微镜 BX51M是透反两用研究系统显微镜，涵盖所有观察方式。新的光路设计，12V100W光源。明场，暗场，偏光，微分干涉相衬，荧光观察方式可选。可连接多种胶片或数字照相系统。
XJX-100单目金相显微镜
XJX型单目金相显微镜是一种便携式正置金相显微镜，它内藏亮度连续可调光源照明器，视光栏和孔径光栏的大小可调，带有可纵、横移动的样品台，采用可随时固锁位置的同轴粗微动调焦机构。
XJX-200单目正置金相显微镜
XJX-200单目正置金相显微镜 XJX-100型单目正置金相显微镜和XJ-200型双目正置金相显微镜是一种便携式正置金相显微镜，它内藏亮度连续可调光源照明器，视光栏和孔径光栏的大小可调，带有可纵、横移动的样品台，采用可随时固锁位置的同轴粗微动调焦机构。