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出自： https://www.gxxwj.com/1765.html
统计粒径分析显微镜 SRZ-7045UV-G是一套专门用于大的固体粉末，建筑沙石，颜料涂层及各类反光材料进行粒径统计的显微分析系统，颗粒的检测范围：20〜 1000μM。该系统能自动提取每个颗粒的形状，并计算颗粒的尺寸，面积，圆度等参数，自动统计出颗粒的平均直径，及各个区间粒径所占的比例。系统配置了专业高清晰CCD成像系统，使得图像边缘清晰，颗粒的提取更准确。粒度分析软件能自动对颗粒进行统计并给出相应的粒径报表，以供打印输出。该系统应用范围广泛，凡是与颗粒图像形态学有关的各种检测与分析：例如固体粉末，建筑沙石，颜料涂层，漆表面缺陷分析，农业种子形态分析，各种微小异性几何尺寸测量，化学工业中各种反应物粒子的形态分析等，都可以利用UV-G来完成。
系统配置：
序号 | 配置名称 | 主要规格参数 |
|---|---|---|
01 | 三目体视显微镜 | 7-45X |
02 | 高清摄像头 | 彩色,900万像素USB2.0输出 |
03 | 摄像接口CTV | 1X |
04 | 粒度分析软件UV-G | 包含所有基本测量功能，可以自动提取颗粒，自动统计颗粒的粒径，输出EXCEL报告。 |
05 | 品牌台式机（选购） | win7、win10系统，内存2G以上，独立显卡，8G以上内存 |
06 | 佳能打印机（选购） | 彩色激光打印机 |
显微镜技术参数：
序号 | 名称 | 技术参数 |
|---|---|---|
01 | 目镜 | 高眼点大视野目镜10X(Φ20mm) |
02 | 物镜 | 7X-4.5X 物镜变倍比 1：6.4 |
03 | 总放大倍数 | 7X-45X（选购0.5X、2X大物镜，20X目镜可达3.5X-180X） |
04 | 观察头 | 三目，视度调节±5屈光度 45°倾斜 360°旋转 |
05 | 瞳距 | 54-75mm |
06 | 视场范围 | 4.0-31.4mm |
07 | 工作距离 | Zui大工作距离105mm |
08 | 调节范围 | 升降调节范围45mm 立杆高240mm |
09 | 载物台 | 配有压片和φ95mm玻璃台板和黑白工作板 |
10 | 光源 | 上下LED灯照明，独立开关,亮度可调，发热量低,寿命长 |
11 | 仪器重量 | 净重：5.0kg 毛重：6.5kg |
12 | 仪器尺寸 | 仪器尺寸24X34X42（cm） 包装尺寸 52X30X42（cm） |