技术参数

LW400LJT 芯片检查显微镜技术参数

主要技术参数:

1. 镜筒:三目观察筒,倾斜30˚,(内置检偏振片,可进行切换), 双目瞳距调节范围:53~75mm

2. 目镜:大视野10X/22mm

3. 无限远长工作距离平场消色差物镜(无盖玻片)

PL5X/ 0.12工作距离 26.1mm

PL 10X/ 0.25工作距离 20.2 mm

PL 20X/ 0.40工作距离8.80mm

PL 50X/ 0.70工作距3.685mm

PL 80X/ 0.80工作距离1.25mm

4.落射照明系统:6V20W卤素灯,亮度可调

内置视场光阑、孔径光阑、滤色片(蓝、黄、绿、磨砂)转换装置,推拉式检偏器与起偏器

5.调焦机构:粗微动同轴调焦, 微动格值0.7μm,带锁紧和限位装置

6.转换器:五孔(内向式滚珠内定位)

7.载物台:尺寸:280mm*270mm,移动范围:(X)204mm*(Y)204mm

8.透射照明系统: 阿贝聚光镜  NA.1.25  可上下升降

9.滤色片:蓝滤色片和磨砂玻璃

10、偏光装置: 起偏振器,可360度旋转,可推拉切换

检偏振器,可推拉切换