LW300LJT正置芯片检查显微镜
LW300LJT正置芯片检查显微镜

LW300LJT正置芯片检查显微镜

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品牌
MicroDemo
产品编号
1452
产品型号
LW300LJT正置芯片检查显微镜
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用途:

LW300系列无限远正置金相显微镜是适用于对不透明物体的显微观察。本仪器配有透反射照明器、无限远平场消色差物镜、大视野目镜、图像清晰、衬度好、同时配有偏光装置。

本系列产品用于厂矿企业、高等院校及科研机构作金相、岩相、矿相等材料表面组织结构的薄片观察检测。也可用于电子,冶金、化工和仪器表行业用于观察透明、半透明或不透明的物质,如芯片金属陶瓷、电子陶瓷、集成块、印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、镀涂层以及其它非金属材料,也适合医药、农林、公安、学校、科研部门作观察分析用。

主要技术参数:

1、目镜筒:三目镜 铰链式,倾斜30度、360°旋转

2、目镜:大视野WF10X/20mm

3、无限远平场长工作距离物镜:

      PL L5X/0.12  工作距离:26.1 mm

      PL L10X/0.25 工作距离:20.2 mm

      PL L40X/0.60(弹簧) 工作距离:3.98 mm

      PL L60X/0.70(弹簧) 工作距离:3.18 m

4、总放大倍数:50X-600X

5、聚焦镜:可调式阿贝聚焦镜NA1.25 ,孔镜光阑、滤色片

6、工作台:尺寸210mm×140mm移动范围75mm×50mm

7、调 焦 :粗微动同轴、升降范围25mm,微动格值0.002mm

8、照明系统:落射照明6V30W,卤素灯亮度可调

选购件:

1、目镜:WF16X/11mm,WF20X/9mm,10X带尺可调目镜

2、物镜:PL L 20X/0.40工作距离:8.80mm,

      PL L50X/0.70(弹簧) 工作距离:3.68 mm

      PL L80X/0.80(弹簧) 工作距离:1.25 mm

      PL L 100X/0.85(弹簧)(干式) 工作距离:0.4mm

3、摄像系统:500万或者1000万数码摄像头;610万工业CCD

4、测量软件,金相分析软件等