CDM-985研究型明暗场正置金相显微镜
CDM-965/985无限远透反射明暗场金相显微镜是一种多用途工业检验用光学仪器，配置大视野目镜与偏光观察装置、暗场装置，透反射照明采用“柯勒”照明系统，视场清晰。可用于半导体硅晶片、LCD基板、电路板、固体粉未及其它各种透明或不透明工业试样的检验，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子工程学等研究的理想仪器.
CDM-823倒置无穷远研究型金相显微镜
CDM-823系列金相显微镜是应用于实验室、教育科研、材料分析和检测领域中高效、性能卓越的显微镜。其设计风格独特、光学系统优秀、机械设计完美，是拥有完全自主知识产权的UCIS无限远色差独立校正光学系统的金相显微镜。
CDM-980长工作距离工业检测金相显微镜
CDM-980/988工业检测显微镜适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察、暗场观察等功能，导柱升降装置，可以快速调整工作台与物镜之间的距离，适用于不同厚度工件检测。机械移动式载物平台可有效定位工件观察部位。调焦机构采用圆柱滚子导向传动，机构升降平稳。产品适用于精密零件，集成电路，包装材料等产品检测。
CDM-202高档研究型倒置金相显微镜
CDM-202倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统与模块化的功能设计理念，可以方便升级系统，实现偏光观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。适用于金相组织及表面形态的显微观察，是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。
CDM-806改良型金相显微镜
整合了Zui新金相显微镜技术优势，以优异的成像性能、舒适的操作体验，为客户提供高性价比的金相分析及工业检测解决方案,LMPlan系列长工作距金相物镜，提升色差校正水平，同时调整膜系设计，进一步提升图像分辨率与色彩还原性采用新生儿睡床Zui佳舒适角度（30°）的观察筒，能够缓解用户在长时间工作状态下的紧张与疲劳，保证Zui佳观察状态。
BX-500便携式现场型金相显微镜
便携式金相显微镜是适用于现场多种大型件的金相检查、失效分析的显微镜，它不用切割取样，可直接在工件上打磨、抛 光，从而保证工件的完整性。显微镜底座带有磁力吸座，直接吸附在工件上观察组织的现场金相检验。便携式金相显微镜适用于航空制造、机械制造、车辆制造、锅炉及压力容器的制造及检验、石油化工、铁路、造船、电厂、电站、设备安装、大型模具、安全检测、质量监督、理化试验室等行业。
i-SPEED 7 高速摄像机
i-SPEED 7系列高速摄像机采用Zui先进的高速视频技术，专为高端研发、弹道、航空测试而设计，7系列4个型号覆盖16GP/Sec@1080P到26GP/Sec@3MP的高速带宽，满足不同预算和应用的需求。全新的7系列CDU可以在75米外操控摄像机，或者使用Zui新的i-SPEED Suite控制软件通过千兆网进行多机控制。Zui高144GB的内部存储空间，不致丢失任何高速细节，配合Zui新的即插型超高速外置SSD，让您可以快速存储和转移实验数据。
i-SPEED DF 高速摄像机
i-SPEED DF 高速摄像机,用于PIV/流量分析的高速双镜头摄像机。i-SPEED DF专为有兴趣在高速流分析，流体动力学，和PIV的客户设计。
GX51奥林巴斯明暗场金相显微镜
GX51奥林巴斯金相显微镜是一款可实现明、暗视野，微分干涉及简易偏光观察的金相显微镜。金相显微镜GX51通过侧面的中间观察筒可连续数字式相机，从而构筑多种更能的观察研究系统。奥林巴斯显微镜GX51对应明、暗视野，微分干涉及简易偏光观察。金相显微镜GX51明、暗视场的切换用手边的一个拨杆便可轻松实现。
GX41奥林巴斯金相显微镜
GX41奥林巴斯金相显微镜是一款机体轻巧，外观设计紧凑且便于携带的适用于生产线的小型化倒置金相显微镜，可以进行明视野及简易偏光观察。小型机体可放置于狭小空间内，大大方便了在需要快速检查的生产现场使用。此显微镜还可以轻松移动，适宜在生产现场之间的移动及教育和实习等场合使用。
BX51-P奥林巴斯金相显微镜
BX51-P奥林巴斯金相显微镜是利用偏光识别各种样品不同特性的高级金相显微镜。适用于各向同性或异性材料的鉴别，一般广泛用于医学，植物学及化工产品或矿物等的分析。BX51P在能实现Zui小光学失真的偏振光用物镜ACHN-P、UPLFLN-P系列产品中选择所需产品。奥林巴斯UPLFLN-P系列物镜是能够用于微分干涉观察及包括紫外线激发的荧光观察的通用物镜，能轻松应对包含偏振光观察的多种研究或检查。
光谱适配器
显微光谱分析又称微区光谱分析，是通过光学显微镜等辅助光学设备，采集微小区域的光信号进行样品光谱分析的一种方法。相对于常规普通光谱分析，显微光谱分析和光学显微镜配合，可以使样品的空间分辨率得到大大的提高。